(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-44:2016
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
24 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
257.04 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Water vapour, Water-vapour tests, Climate, Gas analysis, Integrated circuits, Semiconductor devices, Moisture measurement, Environmental testing, Mechanical testing, Electronic equipment and components