Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS EN 60749-44:2016
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
— 24 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
