(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62047-21:2012-11
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials (IEC 47F/127/CD:2012)
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosytsemtechnik (IEC 47F/127/CD:2012)
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
131.53 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN