Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
Корзина
ASTM
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM E1438-11

Заменен
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 3 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM E673-03
Отменен
Standard Terminology Relating to Surface Analysis (Withdrawn 2012) — 10 стр.
ASTM E1438-11(2019)
Действует
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 3 стр.
ASTM E1438-06
Заменен
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 2 стр.

На этот документ ссылаются

DD ISO/TR 15969:2001
Действует
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth — 22 стр.
18/30362138 DC
Действует
BS ISO 22415. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials — 31 стр.
ASTM E1438-11(2019)
Действует
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 3 стр.
ASTM E1438-06
Заменен
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 2 стр.