Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM E2382-04

Заменен
Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy — 20 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM E1813-96(2007)
Отменен
Standard Practice for Measuring and Reporting Probe Tip Shape in Scanning Probe Microscopy (Withdrawn 2016) — 12 стр.
ASTM E2382-04(2012)
Заменен
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy — 18 стр.

На этот документ ссылаются

PD ISO/TR 14187:2011
Действует
Surface chemical analysis. Characterization of nanostructured materials — 50 стр.
ASTM E2382-04(2012)
Заменен
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy — 18 стр.