Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ASTM
ASTM E431-96(2007)
Заменен
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
— 7 стр.
Описание
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
ASTM E801-06
Заменен
Standard Practice for Controlling Quality of Radiological Examination of Electronic Devices
— 4 стр.
ASTM E1161-09
Заменен
Standard Practice for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components
— 10 стр.
ASTM E1255-09
Заменен
Standard Practice for Radioscopy
— 11 стр.
ASTM E1316-11b
Заменен
Standard Terminology for Nondestructive Examinations
— 34 стр.
ASTM E431-96(2011)
Заменен
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
— 7 стр.
ASTM E431-96(2002)
Заменен
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
— 7 стр.
На этот документ ссылаются
ASTM E543-99
Заменен
Standard Practice for Agencies Performing Nondestructive Testing
— 11 стр.
ASTM E543-08a
Заменен
Standard Specification for Agencies Performing Nondestructive Testing
— 11 стр.
ASTM E543-08
Заменен
Standard Specification for Agencies Performing Nondestructive Testing
— 11 стр.
ASTM E543-06
Заменен
Standard Specification for Agencies Performing Nondestructive Testing
— 11 стр.
ASTM E543-02
Заменен
Standard Practice for Agencies Performing Nondestructive Testing
— 11 стр.
ASTM E543-04
Заменен
Standard Practice for Agencies Performing Nondestructive Testing
— 11 стр.
ASTM E431-96(2002)
Заменен
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
— 7 стр.
ASTM E431-96(2011)
Заменен
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
— 7 стр.
ASTM E1161-95
Заменен
Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components
— 3 стр.
ASTM E1161-03
Заменен
Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components
— 4 стр.