ASTM F1096-87

Отменен

Method for Measuring Mosfet Saturated Threshold Voltage (Withdrawn 1992) — 7 стр.

ICS

31.080.30 Transistors / Транзисторы

Сборник ASTM

10.04 Electronics; Declarable Substances in Materials; 3D Imaging Systems; Additive Manufacturing Technologies / Электроника; Декларируемые вещества в материалах; Системы 3D-визуализации; Аддитивные технологии производства