Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F1260-89

Отменен
Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations — 7 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F1260-89
Отменен
Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations — 7 стр.

На этот документ ссылаются

ASTM F1260M-96
Заменен
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] — 8 стр.
ASTM F1260-89
Отменен
Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations — 7 стр.