Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F1393-92(1997)

Заменен
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe — 7 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F1393-02
Отменен
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003) — 8 стр.

На этот документ ссылаются

DIN ISO 5832-1:2017-04
Отменен
Implants for surgery - Metallic materials - Part 1: Wrought stainless steel (ISO 5832-1:2016) — 12 стр.
DIN EN ISO 5832-1:2019-12
Действует
Implants for surgery - Metallic materials - Part 1: Wrought stainless steel (ISO 5832-1:2016); German version EN ISO 5832-1:2019 — 15 стр.
ASTM F1393-02
Отменен
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003) — 8 стр.