Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F533-02a

Отменен
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) — 5 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F533-02a
Отменен
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) — 5 стр.
ASTM F533-02
Заменен
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers — 4 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 62276:2005
Заменен
Single crystal wafers applied for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specification and measuring methods — 38 стр.
BS EN 62276:2013
Заменен
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods — 44 стр.
BS EN 62276:2016
Действует
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods — 44 стр.
ASTM F533-02
Заменен
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers — 4 стр.
ASTM F533-02a
Отменен
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) — 5 стр.