Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F673-02

Отменен
Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Withdrawn 2003) — 6 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии
ASTM F673-90(1996)e1
Заменен
ASTM F673-02
Отменен