Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыASTM

ASTM F928-02

Отменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates (Withdrawn 2003) — 4 стр.
ОписаниеСсылкиВерсии

Ссылочные документы

ASTM F928-02
Отменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates (Withdrawn 2003) — 4 стр.
ASTM F928-93(1999)
Заменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates — 4 стр.

На этот документ ссылаются

ASTM F928-02
Отменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates (Withdrawn 2003) — 4 стр.
ASTM F928-93(1999)
Заменен
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates — 4 стр.