Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

ASTM F980M-96(2003)

Заменен
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric] — 5 стр.
ASTM F980M-96
Заменен
ASTM F980-92
Заменен
ASTM F980M-96(2003)
Заменен
ASTM F980-10
Заменен
ASTM F980-10e1
Заменен
ASTM F980-16
Заменен
ASTM F980-16(2024)
Действует