Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ASTM
ASTM F996-98
Заменен
Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics
— 6 стр.
Описание
Ссылки
Версии
ASTM F996-98
Заменен
ASTM F996-98(2003)
Заменен
ASTM F996-10
Заменен
ASTM F996-11
Заменен
ASTM F996-11(2018)
Отменен
