Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
17/30355776 DC
Действует
BS EN 62047-34. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 34. Test method for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
— 17 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
BS IEC 60747-14-3:2009
Действует
Semiconductor devices. Semiconductor sensors. Pressure sensors
— 22 стр.
IEC 60410:1973 ed1.0
Отменен
Sampling plans and procedures for inspection by attributes
— 69 стр.
