17/30363044 DC

Действует

BS EN 62047-36. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 36. Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films — 17 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60384-1:2016 ed5.0

Заменен

Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 1: Generic specification — 171 стр.

IEC 60068-2-14:2009 ed6.0

Заменен

Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature — 37 стр.