Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

18/30319114 DC

Действует
BS ISO 20171. Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Tagged image file format for Scanning electron microscopy(TIFF/SEM) — 46 стр.
ICS
35.240.70 IT applications in science. Including digital geographic information / Применение информационных технологий в науке. Включая цифровую географическую информацию
37.020 Optical. Including microscopes, telescopes, binoculars, optical materials, optical components and optical systems / Оптическое оборудование. Включая микроскопы, телескопы и т.д.