18/30362138 DC

Действует

BS ISO 22415. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials — 31 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

ISO/TR 15969:2001

Действует

Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth — 20 стр.

ISO 18115-1:2013

Действует

Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 1: General terms and terms used in spectroscopy — 112 стр.

ASTM E1438-11

Заменен

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS — 3 стр.