Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

18/30366379 DC

Действует
BS IEC 63068-2. Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Part 2. Test method for defects using optical inspection — 26 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии