Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

18/30381548 DC

Действует
BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET). Part 1. Fast BTI Test method — 17 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии