BS CECC 90112:1987

Действует

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification. MOS read/write dynamic memories silicon monolithic circuits — 38 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60747-14-2:2000 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Part 14-2: Semiconductor sensors - Hall elements — 14 стр.

BS CECC 90000:1991

Действует

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification: monolithic integrated circuits — 134 стр.