BS EN 60749-1:2003

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. General — 12 стр.

Ссылочные документы

Действует

Amendment 2 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits — 25 стр.

Заменен

International electrotechnical vocabulary. Live working — 108 стр.

Действует

Semiconductor devices - Part 14-2: Semiconductor sensors - Hall elements — 14 стр.

Действует

Semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Oscillators — 42 стр.

Действует

Electronics assembly technology. Endurance test methods for solder joint of area array type package surface mount devices — 48 стр.

Заменен

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods — 80 стр.