Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-19:2003+A1:2010

Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength — 10 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

BS EN 60749-19:2003
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength — 10 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 62572-3:2012
Заменен
Fibre optic active components and devices. Reliability standards. Laser modules used for telecommunication — 23 стр.
BS EN 60749:1999
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods — 80 стр.