Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM) — 16 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 61340-3-2:2002 ed1.0
Заменен
Electrostatics - Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects - Machine model (MM) - Component testing — 17 стр.
IEC 60749-26:2013 ed3.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) — 91 стр.
BS EN 60749-26:2006
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM) — 18 стр.
BS EN 60749-27:2006
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM) — 16 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749:1999
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods — 80 стр.