Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-3:2002

Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination — 8 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

BS EN 60749-3:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination — 16 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-20:2003
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat — 28 стр.
BS EN 60749-34:2004
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling — 12 стр.
BS EN 60749-3:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination — 16 стр.
BS EN 60749-20:2009
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat — 30 стр.
BS EN 60749-11:2002
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method — 12 стр.
BS EN 60749:1999
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods — 80 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 60749-20:2010-05
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2008) (english version)