Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 60749-5:2017

Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test — 16 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-4:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 9 стр.
BS EN 60749-4:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 14 стр.
BS EN 60749-5:2003
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test — 12 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-5:2003
Заменен
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test — 12 стр.
BS EN 60749-43:2017
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans — 42 стр.
BS EN 60749-4:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 14 стр.
BS EN 62047-5:2011
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. RF MEMS switches — 38 стр.
BS EN 60747-15:2012
Действует
Semiconductor devices. Discrete devices. Isolated power semiconductor devices — 28 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 60747-15:2012-10
Действует
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010) (english version)
ÖVE/ÖNORM EN 62047-5:2012-05
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) (english version)