Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS EN 62047-10:2011
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Micro-pillar compression test for MEMS materials
— 16 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 62047-8:2011 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
— 36 стр.
BS EN 62047-8:2011
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
— 22 стр.
ASTM E9-89a(2000)
Заменен
Standard Test Methods of Compression Testing of Metallic Materials at Room Temperature (Withdrawn 2009)
— 8 стр.
