Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS EN 62276:2005

Заменен
Single crystal wafers applied for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specification and measuring methods — 38 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

BS EN 61019-1:2005
Действует
Surface acoustic wave (SAW) resonators. Generic specification — 42 стр.
BS EN 61019-2:2005
Действует
Surface acoustic wave (SAW) resonators. Guide to the use — 30 стр.
ASTM F657-92(1999)
Отменен
Standard Test Method for Measuring Warp and Total Thickness Variation on Silicon Wafers by Noncontact Scanning (Withdrawn 2003) — 10 стр.
ASTM F533-02a
Отменен
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) — 5 стр.
BS EN ISO 4287:1998
Действует
Geometrical product specification (GPS). Surface texture: Profile method. Terms, definitions and surface texture parameters — 37 стр.
BS EN 60862-1:2003
Заменен
Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality. Generic specification — 44 стр.
BS EN 60862-2:2002
Заменен
Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality. Guidance on use — 62 стр.
BS EN 60862-3:2003
Действует
Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality. Standard outlines — 18 стр.
BS EN 62276:2013
Заменен
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods — 44 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 62276:2013
Заменен
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods — 44 стр.
PD IEC/PAS 62276:2002
Заменен
Single crystal wafers applied for surface acoustic wave device. Specification and measuring method — 40 стр.