BS EN IEC 60749-26:2018

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM) — 56 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-27:2006 ed2.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) — 25 стр.

BS EN 60749-22:2003

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Bond strength — 24 стр.

IEC 60749-30:2005+AMD1:2011 CSV ed1.1

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing — 28 стр.

BS EN 60749-27:2006

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM) — 16 стр.

BS EN 60749-26:2014

Заменен

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM) — 42 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-26:2014

Заменен

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM) — 42 стр.