BS IEC 60747-14-2:2000

Действует

Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Semiconductor sensors. Hall elements — 18 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60747-1:1983 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 1: General — 113 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-23:2011-07

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); German version EN 60749-23:2004 + A1:2011 — 11 стр.

DIN EN 60749-34:2011-05

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010); German version EN 60749-34:2010 — 12 стр.

DIN EN 60027-2:2007-11

Действует

Letter symbols to be used in electrical technology - Part 2: Telecommunications and electronics (IEC 60027-2:2005); German version EN 60027-2:2007 — 92 стр.

DIN EN 61747-10-1:2014-06

Действует

Liquid crystal display devices - Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods - Mechanical (IEC 61747-10-1:2013); German version EN 61747-10-1:2013 — 14 стр.

DIN EN 62747:2015-03

Отменен

Terminology for voltage-sourced converters (VSC) for high-voltage direct current (HVDC) systems (IEC 62747:2014); German version EN 62747:2014 — 32 стр.