Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS IEC 60748-23-3:2002

Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Manufacturers' self-audit checklist and report — 88 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

BS IEC 60748-23-4:2002
Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Blank detail specification — 22 стр.
BS IEC 60748-23-2:2002
Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification, Internal visual inspection and special tests — 100 стр.
BS IEC 60748-23-1:2002
Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Generic specification — 88 стр.
IEC 60748-11:1990 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits — 63 стр.
IEC 60695-2-2:1991 ed2.0
Заменен
Fire hazard testing - Part 2: Test methods - Section 2: Needle-flame test — 18 стр.
IEC 60068-2-20:1979/AMD2:1987 ed4.0
Заменен
Amendment 2 - Basic environmental testing procedures - Part 2-20: Tests - Test T: Soldering — 3 стр.
BS IEC 60050-651:1999
Заменен
International electrotechnical vocabulary. Live working — 108 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-34:2011-05
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010); German version EN 60749-34:2010 — 12 стр.
DIN EN 60027-2:2007-11
Действует
Letter symbols to be used in electrical technology - Part 2: Telecommunications and electronics (IEC 60027-2:2005); German version EN 60027-2:2007 — 92 стр.
DIN EN 61747-10-1:2014-06
Действует
Liquid crystal display devices - Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods - Mechanical (IEC 61747-10-1:2013); German version EN 61747-10-1:2013 — 14 стр.
BS IEC 60748-23-4:2002
Действует
Semiconductor devices. Integrated circuits. Hybrid integrated circuits and film structures. Manufacturing line certification. Blank detail specification — 22 стр.