BS IEC 62483:2013

Действует

Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices — 52 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-3:2017

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination — 16 стр.

PD IEC/TS 62686-1:2015

Действует

Process management for avionics. Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications. General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors — 68 стр.