BS ISO 13095:2014

Действует

Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement — 36 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

ISO 11952:2014

Действует

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems — 66 стр.

BS ISO 11039:2012

Действует

Surface chemical analysis. Scanning-probe microscopy. Measurement of drift rate — 28 стр.

ISO/TS 80004-4:2011

Действует

Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 4: Nanostructured materials — 14 стр.

BS ISO 18115-2:2010

Заменен

Surface chemical analysis. Vocabulary. Terms used in scanning-probe microscopy — 60 стр.