Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS ISO 14701:2011
Заменен
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
— 22 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
BS ISO 18116:2005
Заменен
Surface chemical analysis. Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
— 26 стр.
ISO/TR 18392:2005
Действует
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Procedures for determining backgrounds
— 18 стр.
ISO/IEC Guide 98-3:2008
Действует
Uncertainty of measurement -- Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)
— 132 стр.
BS ISO 14701:2018
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
— 24 стр.
На этот документ ссылаются
BS ISO 14701:2018
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
— 24 стр.
