Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыBSI

BS ISO 14701:2018

Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness — 24 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

BS ISO 18115-1:2013
Действует
Surface chemical analysis. Vocabulary. General terms and terms used in spectroscopy — 114 стр.
BS ISO 18116:2005
Заменен
Surface chemical analysis. Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis — 26 стр.
ISO/TR 18392:2005
Действует
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Procedures for determining backgrounds — 18 стр.
ISO/IEC Guide 98-3:2008
Действует
Uncertainty of measurement -- Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) — 132 стр.
BS ISO 14701:2011
Заменен
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness — 22 стр.

На этот документ ссылаются

BS ISO 14701:2011
Заменен
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness — 22 стр.