BS ISO 15632:2012

Действует

Microbeam analysis. Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis — 22 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

BS ISO 23833:2013

Действует

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA). Vocabulary — 36 стр.

ASTM E1508-12a

Заменен

Standard Guide for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy — 9 стр.

BS ISO 18115-1:2013

Действует

Surface chemical analysis. Vocabulary. General terms and terms used in spectroscopy — 114 стр.

ISO/IEC 17025:2017

Действует

General requirements for the competence of testing and calibration laboratories — 38 стр.

BS ISO 22309:2011

Действует

Microbeam analysis. Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above — 32 стр.

IEC 60759:1983/AMD1:1991 ed1.0

Действует

Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers — 4 стр.

BS ISO 15632:2002

Заменен

Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors — 16 стр.

На этот документ ссылаются

BS ISO 15632:2002

Заменен

Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors — 16 стр.

BS EN 1071-4:2006

Действует

Advanced technical ceramics. Methods of test for ceramic coatings. Determination of chemical composition by electron probe microanalysis (EPMA) — 18 стр.

PD ISO/TR 18196:2016

Действует

Nanotechnologies. Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects — 66 стр.