Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS ISO 16243:2011
Действует
Surface chemical analysis. Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
— 20 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
BS ISO 20903:2011
Действует
Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
— 24 стр.
BS ISO 18117:2009
Заменен
Surface chemical analysis. Handling of specimens prior to analysis
— 20 стр.
BS ISO 18116:2005
Заменен
Surface chemical analysis. Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
— 26 стр.
ISO/TR 15969:2001
Действует
Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth
— 20 стр.
BS ISO 15472:2010
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectrometers. Calibration of energy scales
— 38 стр.
BS ISO 18115-1:2013
Действует
Surface chemical analysis. Vocabulary. General terms and terms used in spectroscopy
— 114 стр.
На этот документ ссылаются
BS ISO 10810:2010
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis
— 38 стр.
BS ISO 13424:2013
Действует
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of results of thin-film analysis
— 56 стр.
