BS ISO 18516:2006

Действует

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Determination of lateral resolution — 34 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

BS ISO 18115:2001+A2:2007

Заменен

Surface chemical analysis. Vocabulary — 122 стр.

ISO 21270:2004

Действует

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers -- Linearity of intensity scale — 20 стр.

ISO 15471:2004

Заменен

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters — 12 стр.

ISO 15470:2004

Заменен

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters — 12 стр.

На этот документ ссылаются

BS ISO 13083:2015

Действует

Surface chemical analysis. Scanning probe microscopy. Standards on the definition and calibration of spatial resolution of electrical scanning probe microscopes (ESPMs) such as SSRM and SCM for 2D-dopant imaging and other purposes — 26 стр.

PD ISO/TR 18196:2016

Действует

Nanotechnologies. Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects — 66 стр.

BS ISO 10810:2010

Действует

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis — 38 стр.

18/30364925 DC

Действует

BS ISO 10810. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis — 36 стр.

BS ISO 18337:2015

Действует

Surface chemical analysis. Surface characterization. Measurement of the lateral resolution of a confocal fluorescence microscope — 20 стр.

BS ISO 27911:2011

Действует

Surface chemical analysis. Scanning-probe microscopy. Definition and calibration of the lateral resolution of a near-field optical microscope — 28 стр.