Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials— 54 стр.
37.020 Optical. Including microscopes, telescopes, binoculars, optical materials, optical components and optical systems / Оптическое оборудование. Включая микроскопы, телескопы и т.д.
71.040.50 Physicochemical. Including spectrophotometric and chromatographic analysis / Физико-химические методы анализа. Включая спектрофотометрический и хроматографический анализы
