Стандарты BSI

BS ISO 23833:2006

Заменен

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA). Vocabulary — 62 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

BS ISO 704:2009

Действует

Terminology work. Principles and methods — 78 стр.

BS ISO 1087-1:2000

Действует

Terminology work. Vocabulary. Theory and application — 54 стр.

BS ISO 10241-1:2011

Действует

Terminological entries in standards. General requirements and examples of presentation — 66 стр.

BS ISO 18115:2001+A2:2007

Заменен

Surface chemical analysis. Vocabulary — 122 стр.

BS ISO 15632:2002

Заменен

Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors — 16 стр.

BS ISO 23833:2013

Действует

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA). Vocabulary — 36 стр.

На этот документ ссылаются

PAS 134:2007

Заменен

Terminology for carbon nanostructures — 20 стр.

BS ISO 16592:2006

Заменен

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for determining the carbon content of steels using a calibration curve method — 20 стр.

BS ISO 22493:2008

Заменен

Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary — 34 стр.

PAS 133:2007

Действует

Terminology for common nanoscale measurement and instrumentation

PAS 71:2011

Действует

Nanoparticles. Vocabulary — 34 стр.

DD ISO/TS 10798:2011

Действует

Nanotechnologies. Characterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis — 38 стр.

BS ISO 23833:2013

Действует

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA). Vocabulary — 36 стр.

PD ISO/TS 10797:2012

Действует

Nanotechnologies. Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy — 42 стр.

DIN ISO 13067:2015-12

Действует

Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size (ISO 13067:2011) — 27 стр.