General procedures for quality assessment to be used in the IECQ system and general rules for measurement methods of electrical characteristics, climatic and mechanical tests and endurance tests.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
