DD ISO/TS 10798:2011

Действует

Nanotechnologies. Characterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis — 38 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

ASTM E1508-98

Заменен

Standard Guide for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy — 8 стр.

BS ISO 23833:2006

Заменен

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA). Vocabulary — 62 стр.

BS ISO 22309:2006

Заменен

Microbeam analysis. Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) — 32 стр.

ISO 16700:2004

Заменен

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification — 24 стр.

ISO 14595:2003

Заменен

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs) — 22 стр.

ISO/TS 11308:2011

Действует

Nanotechnologies -- Characterization of single-wall carbon nanotubes using thermogravimetric analysis — 30 стр.

ISO/TR 10929:2012

Действует

Nanotechnologies -- Characterization of multiwall carbon nanotube (MWCNT) samples — 12 стр.

ISO/TS 10797:2012

Действует

Nanotechnologies -- Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy — 40 стр.

ISO/TS 80004-3:2010

Действует

Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 3: Carbon nano-objects — 14 стр.

ISO 22493:2008

Заменен

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary — 30 стр.