PD IEC/TR 61967-1-1:2010

Заменен

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions. General conditions and definitions. Near-field scan data exchange format — 56 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры