PD IEC/TS 61967-3:2014

Действует

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic emissions. Measurement of radiated emissions. Surface scan method — 38 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры