PD IEC/TS 62132-9:2014

Действует

Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. Surface scan method — 32 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры