Стандарты BSI

PD IEC/TS 62622:2012

Действует

Nanotechnologies. Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratings — 44 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

DIN 2268:1975-10

Отменен

Length Measurements with Graduations; Parameters, Tolerancing — 8 стр.

ISO 16700:2004

Заменен

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification — 24 стр.

ISO 29301:2010

Заменен

Microbeam analysis -- Analytical transmission electron microscopy -- Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures — 48 стр.

ISO/TS 16610-1:2006

Действует

Geometrical product specifications (GPS) -- Filtration -- Part 1: Overview and basic concepts — 30 стр.

ISO 15902:2004

Действует

Optics and optical instruments -- Diffractive optics -- Vocabulary — 28 стр.

ISO/TS 80004-1:2010

Заменен

Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 1: Core terms — 12 стр.

ISO/IEC 17025:2017

Действует

General requirements for the competence of testing and calibration laboratories — 38 стр.