DIN 41850-1:1975-07

Отменен

Integrated film circuits; ceramic substrates for thickfilm integrated circuits — 2 стр.

Ссылочные документы

DIN 4768:1990-05

Отменен

Determination of values of surface roughness parameters R<(Index)a>, R<(Index)z>, R<(Index)max> using electrical contact (stylus) instruments; concepts and measuring conditions — 3 стр.

DIN 41850-1:1986-05

Отменен

Integrated film circuits; substrates — 5 стр.

На этот документ ссылаются

DIN 41850-1:1986-05

Отменен

Integrated film circuits; substrates — 5 стр.

DIN 41850-4:1976-01

Отменен

Integrated film circuits; material, methods for judgement of thick film resistor compositions — 3 стр.

DIN 41850-2:1985-09

Отменен

Film and hybrid integrated circuits; materials, methods for the assessment of conductive pastes — 6 стр.