DIN EN 60749-34:2004-10

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2004); German version EN 60749-34:2004 — 11 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

DIN IEC 60747-1/A1:2009-08

Отменен

Semiconductor devices - Part 1: General (IEC 47/2015A/CDV:2009)

DIN IEC 60747-2:2001-02

Действует

Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 2: Rectifier diodes (IEC 60747-2:2000)

DIN IEC 60747-6-2:1992-05

Отменен

Semiconductor devices - Part 6: Thyristors; Section two: Blank detail specification for bidirectional triode thyristors (triacs), ambient or case-rated, up to 100 A; Identical with IEC 60747-6-2:1991

DIN EN 60749-34:2011-05

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010); German version EN 60749-34:2010 — 12 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-34:2011-05

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010); German version EN 60749-34:2010 — 12 стр.