Стандарты DIN ICS 31 Electronics / Электроника 31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы 31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

DIN EN 60749-37:2008-08

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008); German version EN 60749-37:2008 — 22 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом