DIN EN 60749-6:2016-09

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 47/2297/CDV:2016); German Version prEN 60749-6:2016

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-6:2017-11

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017 — 9 стр.