Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

DIN IEC 62047-8:2008-05

Отменен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 47/1961/CD:2008)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии